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無(wú)機(jī)材料元素成分分析


我司擁有X射線光電子能譜(XPS),理學(xué)X射線衍射儀(XRD),帕納科X射線衍射儀(xrd),島津X射線熒光光譜(XRF)等設(shè)備,可對(duì)無(wú)機(jī)樣品成分和結(jié)構(gòu)進(jìn)行全方位分析

序號(hào)類別項(xiàng)目/參數(shù)
1X射線光電子能譜(XPS) 可對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理(高真空、氮?dú)獗Wo(hù)H2,空氣等不同氣氛的處理),原位的測(cè)定處理前后樣品的表面元素的分布及價(jià)態(tài)變化。
2理學(xué)X射線衍射儀(XRD)X射線發(fā)生器功率為3KW
測(cè)角儀最小步進(jìn)為1/10000度
步長(zhǎng):0.02
掃速:4度/分
3帕納科X射線衍射儀(XRD)功率:3Kw
測(cè)角儀重現(xiàn)性:0.0001度
發(fā)散度:<0.01度
最小步長(zhǎng)<0.0001度
測(cè)角儀的精確度<0.0001度
4島津X射線熒光光譜(XRF)可進(jìn)行固體、粉末、液體等多種樣品的定性分析和無(wú)需工作曲線的FP法定量分析。